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MP0/MPO涂層測(cè)厚儀中文說(shuō)明書(shū)

1 開(kāi)/ 關(guān)儀器
     說(shuō)明：儀器沒(méi)有專(zhuān)門(mén)的開(kāi)關(guān)。
打開(kāi)儀器
     - 當(dāng)儀器放在工件上時(shí)自動(dòng)開(kāi)啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導(dǎo)電材料上，顯示屏?xí)@示“Er6”，然后顯示四個(gè)水平短線(xiàn)而不顯示任何讀數(shù)。
     - 另一種開(kāi)機(jī)方法是按[OK]鍵。
請(qǐng)注意!
     不要通過(guò)手指壓迫傳感器來(lái)開(kāi)啟儀器！這樣可能會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的測(cè)量結(jié)果。
關(guān)閉儀器/ 自動(dòng)關(guān)閉
     一分鐘不使用，儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)閉。（關(guān)閉= 儀器沒(méi)有任何顯示）。
 

2 測(cè)量涂鍍層厚度
     1. 儀器開(kāi)啟后，把儀器放在要測(cè)量工件上，等待儀器發(fā)出測(cè)量聲響。這種方式可以自動(dòng)開(kāi)啟儀器。
     2. 把儀器提離工件。測(cè)量聲響后顯示讀數(shù)。說(shuō)明：若太早提起儀器(未有聲響前)，錯(cuò)誤信息“Er6”會(huì)出現(xiàn)。重復(fù)步驟1。
     3. 當(dāng)儀器已在開(kāi)啟狀態(tài)時(shí)， 讀數(shù)會(huì)馬上顯示。儀器放在測(cè)量工件上及提起后均有顯示。
 ?

3 顯示儀器內(nèi)儲(chǔ)存的測(cè)量數(shù)據(jù)
     儀器多可以?xún)?chǔ)存999 個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。
     1. 用[?]鍵或[?]鍵可翻看測(cè)量數(shù)據(jù)。
     2. 翻過(guò)第1個(gè)或者后一個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)后，屏幕將顯示“- - - - “并維持1 秒鐘左右。
     任何時(shí)候您都可以繼續(xù)測(cè)量。

4 刪除所有測(cè)量數(shù)據(jù)
     1. 按[?] 或[?]鍵。
     2. 按[CAL]鍵。“del” 即刪除將顯示2 秒鐘。
     3. 在“del”顯示的時(shí)候按[OK]鍵。儀器內(nèi)所有測(cè)量數(shù)據(jù)將被刪除。當(dāng)“del”不顯示的時(shí)候按[OK]鍵將無(wú)任何反應(yīng)。

5 歸一化
歸一化用來(lái)對(duì)測(cè)量?jī)x器進(jìn)行調(diào)整。歸一化需要未鍍過(guò)的底材，而且底材的形狀和物料必須和被測(cè)量的工件一致。
     說(shuō)明：歸一化會(huì)刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。
     歸一化儀器(前提: 儀器處于開(kāi)啟狀態(tài))
     1. 按[CAL]鍵. 顯示"Base" (即“未鍍過(guò)的底材”).2. 在底材上測(cè)量五次左右每次測(cè)量后，會(huì)顯示當(dāng)前的讀數(shù)。
     3. 按兩次[OK] 鍵.屏幕顯示“Er17”，忽略它。完成歸一化程序

6 校準(zhǔn)
校準(zhǔn)需要有下面幾項(xiàng)東西：底材（形狀和底材物料要與待測(cè)部件一致）和一片標(biāo)準(zhǔn)片(儀器隨機(jī)的75 μm 左右標(biāo)準(zhǔn)片)。說(shuō)明：校準(zhǔn)將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。
     校準(zhǔn)儀器（前提：儀器必須打開(kāi)）
     1. 按[CAL]鍵。顯示"Base" (即“未鍍過(guò)的底材”)
     2. 在底材上測(cè)量五次左右.每次測(cè)量后，會(huì)顯示當(dāng)前的讀數(shù)。
     3. 按[OK]鍵.顯示0.00 和STD1 (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片# 1).
     4. 把校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片放在底材上，并測(cè)量5 次左右。
     每次測(cè)量后，屏幕上會(huì)顯示當(dāng)前讀數(shù)。
     5. 用[?] 或[?]鍵調(diào)整第4 步的后一個(gè)數(shù)值至標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱(chēng)值， 如“75 μm”。標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱(chēng)值注明在標(biāo)準(zhǔn)片上。
     6. 按[OK]鍵。
     完成校準(zhǔn)程序. 儀器返回測(cè)量狀態(tài)

7 刪除校準(zhǔn)資料/ 恢復(fù)初始曲線(xiàn)
     有時(shí)，如果經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)后，儀器測(cè)量仍然不準(zhǔn)確，則可以刪除校準(zhǔn)參數(shù)。如果先前的校準(zhǔn)程序沒(méi)有正確進(jìn)行的話(huà)，就可能會(huì)發(fā)生這種情況。在這種情況下，可以把特征曲線(xiàn)恢復(fù)到原始的出廠(chǎng)設(shè)定。
     刪除儀器的校準(zhǔn)參數(shù)（前提：儀器必須打開(kāi)）
     1. 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即“底材”) .
     2. 在底材上測(cè)量5 次左右.
     3. 按[OK]鍵. 顯示“STD1" (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片# 1) .
     4. 在底材上測(cè)量1 次.屏幕將顯示0 左右的讀數(shù).
     5. 用[?] 或[?] 鍵將STD1 調(diào)整到0.00 .屏幕將顯示“0.00 STD1” .
     6. 按[OK] 鍵。恢復(fù)到初始的特征曲線(xiàn)。恢復(fù)完成。儀器現(xiàn)在可以測(cè)量了。

（僅供參考，請(qǐng)關(guān)注儀器版本，選擇對(duì)應(yīng)的操作手冊(cè)）