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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

X射線鍍層測厚儀XDL 230簡介：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時，XY工作臺自動移動到加載位置，同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側面有開口（C形槽）。由于測量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體，也可以測量形狀復雜的大樣品（樣品高度可達140mm）。Z軸可電動調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0 – 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇，這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體（DCM方法