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  菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀

  菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化 STEP 測試 ，Couloscope CMS STEP用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學電位差。

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  菲希爾電路板上的銅鍍層測厚儀

  菲希爾電路板上的銅鍍層測厚儀 SR-SCOPE®根據(jù)標準EN 14571：2004測量印制電路板頂部的銅涂層的厚度。 它特別適用于在多層或薄層壓板上進行測量，因為由于測量方法的原因，彼此相對的銅層不會相互影響。

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