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  XDAL237 X射線熒光測厚儀

  XDAL237 X射線熒光測厚儀 憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設計上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。

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  x射線鍍層與合金的材料分析儀

  x射線鍍層與合金的材料分析儀 作為在生產(chǎn)測量中使用X射線熒光法的*驅，菲希爾很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料分析領域的巨大潛力，因而開始研發(fā)和制造工業(yè)級耐用的測量儀器

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